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純ガス中不純物測定装置 GC

純ガス中不純物測定装置 GC
Ellutia Ltd. 社製品
純ガス中の不純物を測定するための専用GCとして低濃度測定が可能です。ガスクロマトグラフは「サンプル注入」「ストリップ」「ハートカット」とPDID検出器のために構成された10ポートと4ポートの切替バルブから成り立っています。

仕様

検出器
PDID
測定成分と測定範囲
CO2中、ヘリウム中のガス:H2,Ar/O2,N2,CH4,CO-0.02~50ppm
            CO-0.05~50ppm
Ar中のガス:H2,N2-0.05~20ppm CH4-0.02~20ppm
N2中のガス:H2,Ar/O2,CH4-0.02~20ppm CO-0.05~20ppm
H2中のガス:Ar/O2,N2,CH4-0.02~20ppm CO-0.05~20ppm
検出時間
CO2中ガス-8分 (1サイクル10分)
N2中ガス-14.5分 (1サイクル19.5分)
Ar中ガス-8.5分 (1サイクル13.5分)
H2中ガス-12.5分 (1サイクル17.5分)
キャリアガス
高純度ヘリウム
オーブン温度
カラムオーブン:75℃ ディテクターオーブン:110℃
寸法
19インチラック仕様

測定可能成分一覧

日本サーモ株式会社

〒611-0041
京都府宇治市槇島町落合118番地

TEL:0774-21-2111
 FAX:0774-21-2240